在半导体晶圆检测中，双翌光电的晶圆探针自动测试应用软件V1.0集成了自动聚焦功能，支持晶圆的表面缺陷、电气性能等多项检测，检测精度达到微米级，降低了因对位偏差导致的检测误差，为半导体制造商提供了可靠的晶圆检测解决方案。

●自动对位聚焦         ●微米级精度         ●多功能检测         ●简洁操作界面         ●专为半导体开发